Spectrométrie de fluorescence X de type EDX Présentiel

AXE 7 - Caractérisation des matériaux

Environnement scientifique et technique de la formation

Institut des molécules et matériaux du Mans
http://immm.univ-lemans.fr/fr/index.html

RESPONSABLE
François GOUTENOIRE
Professeur
UMR 6283

Microanalyse et analyse de surface

Spectrométrie de fluorescence X de type EDX

PROGRAMME

• Cours
  • Rappel sur les interactions photon X-matière
  • Description des appareillages de type EDX (avec source primaire X), source et détecteur
  • Utilisation des filtres passe-bas et passe-haut
  • Etude des effets de matrice et des effets inter-éléments
  • Présentation des méthodes de correction des effets de matrice et des effets inter-éléments
• Travaux pratiques
  • Identification élémentaire
  • Analyse des erreurs de mesure liées à l'utilisation d'un détecteur EDX
  • Préparation d'une méthode d'analyse multi-élémentaire (acier inox et matrice cimentière)
  • Réalisation d'échantillons pressés (ciment)

COÛT PÉDAGOGIQUE
1224 Euros

À L'ISSUE DE LA FORMATION
Evaluation de la formation par les stagiaires
Envoi d'une attestation de formation

DATE DU STAGE
Réf. 25 116 : du mardi 06/05/25 à 09:00 au mercredi 07/05/25 à 18:00

EQUIPEMENTS
Le traitement des données sera réalisé sur Excel (Microsoft Office). Il est demandé aux participants de venir avec leur PC équipé de Microsoft Office. La partie pratique s'effectue à l'IUT du Mans le deuxième jour. Celui-ci est à 200m de l'IMMM. Le département chimie est équipé d'une fluorescence X de paillasse Epsilon 3 (Malvern Panlytical).

• Acquérir des connaissances pratiques et théoriques de base pour utiliser des spectromètres de fluorescence X dont la source primaire d'excitation est un rayonnement X
• Gérer les configurations de l'appareil (tension d'accélération, filtre primaire, atmosphère) pour mener à bien une analyse
• Mettre en oeuvre une technique de quantification par étalonnage externe avec gestion des effets de matrice