XPS pour la compréhension de la chimie des surfaces et des interfaces Présentiel

1er jour

Cours :

• Introduction à la spectroscopie de photoélectrons et d'électrons Auger excités par rayons X
• La quantification, l'exploitation du déplacement chimique, l'analyse en profondeur (profilage et analyse angulaire)

Travaux dirigés :

• Initiation au logiciel de traitement de données Avantage©
• Analyse qualitative et quantitative de niveau 1 de spectres généraux (dits surveys)

2ème jour

Cours :

• Descriptif d'un spectromètre XPS : organes principaux, les modules additionnels et accessoires
• Visite du parc instrumental et démonstration de la mise en œuvre des analyses

Travaux dirigés : 

• Analyse qualitative et quantitative de niveau 2 sur les fenêtres haute résolution, reconstruction des pics pour accéder aux environnements chimiques (identification et quantification)

3ème jour

Travaux dirigés :

• Analyse de profils en profondeurs
• Approche quantitative sur la réelle réactivité de ces surfaces, sur les stratégies d'ingénierie et sur l'analyse de la contamination carbonée
• Apport de l'XPS et des techniques connexes dans un parcours d'analyse

• Connaître le principe de la photoémission et de l'émission (X)Auger
• Connaître les principaux organes d'un spectromètre XPS
• Exploiter qualitativement et quantitativement un spectre XPS
• Identifier les principaux artéfacts de mesure
• Connaître les capacités et limites de l'XPS pour l'analyse chimique des surfaces et interfaces et savoir intégrer utilement l'XPS dans un parcours d'analyse

Liste des ressources pédagogiques remises aux participants à l'issue de la formation : sur clé USB. Fascicule de cours/TD au format PDF, export des traitements de données sous Excel.

Les participants auront accès au centre CEFS2 (3 Spectros XPS, 1 Spectro ARXPS) ; deux d'entre eux seront mobilisés pour la formation et les manipulations en temps réel qui y seront dispensées. Les supports informatiques et logiciels seront fournis pendant le stage.